| 加工定制：是 | 品牌：何亦 | 型号：CLJ-BII(J) |
| 类型：---- | 测量范围：100级～30万级um | 测量准确度：----% |
| 测量重复性：----% | 测量时间：----s |
CLJ-BII(J)全半导体激光尘埃粒子计数器
仪器简介：
该仪器的技术指标满足国家计量总局颁布的JJG547-88检定规程的要求，整机功能采用微电脑控制处理，可直接打印检测结果。具有功能多、测量精度高、速度快、便于携带和操作简单等特点。仪器一次采样可同时测得多种粒径的尘埃粒子数，并能选择观察其中某一粒径粒子的数目及其变化情况，对于研究、检测和评价各种洁净环境都十分方便。
该系列产品已被广泛应用于微电子、医院、制药、医疗器械、生化制品、食品卫生、精细化工、精密机械和航空航天等生产和科研部门，是制药企业及其监督管理部门***GMP规范的仪器。该系列仪器性能设计***、质量稳定可靠，深受用户欢迎。经国内贸易部有关部门的市场调查和推荐，先后获《质量***产品》、《消费者***产品》、《质量监督合格产品》等荣誉证书。
技术参数:
型号：CLJ-BⅡ(J)
采样流量：2.83L/min
检测范围：100级～30万级
自净时间：≤10min
连续工作时间：8h
打印功能：内置打印机
工作环境：温度10~35℃，相对湿度≤75%
电源：220V±10%，50Hz±2Hz
粒径通道：0.3，0.5，1，3，5，10（um）六通道
采样周期：1min~10min(10档)
时钟：有时钟
公英制转换：有公英制转换
判断净化级别：按95%置信度判断净化级别
电源及寿命：全半导体激光>30000h
功耗：35W
外形尺寸：22.5X10X25(cm)
重量：4Kg
